Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%) в рублях |
|
Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательный тип
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательный тип
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Устройства с жидкокристаллическим дисплеем. Часть 6-3. Методы измерения модулей жидкокристаллических дисплеев. Измерение движения артефакта активных модулей матрицы жидкокристаллических дисплеев
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
Устройства с жидкокристаллическим дисплеем. Часть 6-3. Методы измерения модулей жидкокристаллических дисплеев. Измерение движения артефакта активных модулей матрицы жидкокристаллических дисплеев
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Liquid crystal display devices - Part 10-1: Environmental, endurance and mechanical test methods - Mechanical (IEC 61747-10-1:2013) (german version)
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Liquid crystal display devices - Part 10-1: Environmental, endurance and mechanical test methods - Mechanical (IEC 61747-10-1:2013) (english version)
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
Дисплеи жидкокристалические и твердотельные. Часть 30-1. Методы измерений модулей для жидкокристалических дисплеев. Пропускательный тип
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
Дисплеи жидкокристалические и твердотельные. Часть 30-1. Методы измерений модулей для жидкокристалических дисплеев. Пропускательный тип
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Дисплеи на жидких кристаллах и полупроводниках. Часть 1. Общие технические условия
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Технология поверхностного монтажа. Часть 1. Стандартный метод составления технических условий на компоненты, монтируемые на поверхности плат
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Технология поверхностного монтажа. Часть 2. Транспортирование и условия хранения приборов поверхностного монтажа. Руководство по применению
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Конденсаторы силовые. Кондансаторные батареи для коррекции коэффициента мощности при низком напряжении
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Integrated circuits - Manufacturing line approval application guideline (IEC 61943:1999)
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Integrated circuits - Memory devices pin configurations (IEC 61964:1999)
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Электронно-лучевые трубки. Механическая безопасность
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излученных излучений. Метод с применением ТЕМ элементов и широкополосных ТЕМ элементов
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 5. Измерение наведенных излучений. Стендовый метод клетки Фарадея
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 6. Измерение наведенных излучений. Метод с применением магнитного зонда
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 8. Измерение радиальных излучений. Метод с полосковыми ИС
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 8. Измерение радиальных излучений. Метод с полосковыми ИС
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
Страницы: ... / 37 / 38 / 39 / 40 / 41 / 42 / 43 / 44 / 45 / 46 / 47 / 48 / 49 / 50 |