Обозначение |
Заглавие на русском языке |
Язык документа |
Цены с НДС (20%) в рублях
|
DIN EN 16602-70-12-2016
|
Гарантия качества аэрокосмической продукции. Правила по конструированию печатных плат; Английская версия EN 16602-70-12:2016
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
DIN EN 60195-2017
|
Метод измерения токовых шумов, генерируемых в постоянных резисторах
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
DIN EN 60384-3-2017
|
Конденсаторы постоянной емкости для электронной аппаратуры. Часть 3. Групповые технические условия. Монтируемые на поверхности танталовые электролитические конденсаторы постоянной емкости с диоксидом марганца в качестве твердого электролита
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
DIN EN 60384-4-2017
|
Конденсаторы постоянной емкости для электронной аппаратуры. Часть 4. Групповые технические условия. Алюминиевые электролитические конденсаторы постоянной емкости с твердым (MnO2) и нетвердым электролитом
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
DIN EN 60384-18-2017
|
Конденсаторы постоянной емкости для электронной аппаратуры. Часть 18: Групповые технические условия: Бескорпусные алюминиевые электролитические конденсаторы постоянной емкости с твердым (МнО 2) и нетвердым электролитом
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
DIN EN 60393-2-2016
|
Потенциометры для электронной аппаратуры. Часть 2. Групповые технические условия. Потенциометры с регулировочным винтом и поворотные подстроечные потенциометры
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
DIN EN 60393-5-2016
|
Потенциометры для электронной аппаратуры. Часть 5. Групповые технические условия. Однооборотные поворотные маломощные проволочные и беспроволочные потенциометры
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
DIN EN 60393-6-2016
|
Потенциометры для электронной аппаратуры. Часть 6. Групповые технические условия. Подстроечные потенциометры для поверхностного монтажа
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
DIN EN 60539-1-2017
|
Терморезистор прямого подогрева с отрицательным температурным коэффициентом сопротивления (ТКС). Часть 1. Общие технические условия
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
DIN EN 60749-44-2017
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 44. Метод определения одиночного импульса излучения (SEE), вызываемого пролетом пучка нейтронов, для полупроводниковых приборов
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
DIN EN 60758-2017
|
Кристалл синтетического кварца. Технические условия и руководство по использованию
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
DIN EN 61189-2-719-2017
|
Методы испытаний электрических материалов, печатных плат и других структур межсоединений и сборочных узлов. Часть 2-719. Методы испытания материалов для структур межсоединений. Относительная диэлектрическая проницаемость и тангенс угла потерь (от 500 МГц до 10 ГГц)
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
DIN EN 61189-3-719-2016
|
Материалы электрические, структуры межсоединений и скомпонованные узлы. Методы испытания. Часть 3-719. Методы испытания структур межсоединений (печатных плат). Мониторинг изменения сопротивления отдельного метализированного монтажного отверстия при циклическом воздействии температуры
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
DIN EN 61189-5-1-2017
|
Методы испытаний электрических материалов, печатных плат и других структур межсоединений и сборочных узлов. Часть 5-1. Общие методы испытаний материалов и узлов. Руководство по узлам печатных плат
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
DIN EN 62047-1-2016
|
Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 1. Термины и определения
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
DIN EN 62047-25-2017
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 25. Технология изготовления MEMS на основе кремния. Метод измерения прочности на отрыв-сжатие и на сдвиг контактной микроплощадки
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
DIN EN 62047-26-2016
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 26. Методы описания и измерения микрощелевых и игольчатых структур
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
Страницы: 1 / 2 |