|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 20903:2019 | на печать | Химический анализ поверхности. Оже-электронная спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для протоколирования результатов |
|
| | Библиография Обозначение | ISO 20903:2019 | Статус | Действует | Вид стандарта | ST | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Оже-электронная спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для протоколирования результатов | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy -- Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | Обозначение заменяемого(ых) | ISO 20903:2011 | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 7 | Язык оригинала | английский | Номер издания | 3 | Дата опубликования | 13.02.2019 | Количество страниц оригинала | 24 | Код цены | C | Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации | |
| | Стандарт ISO 20903:2019 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
16704,00
|
|
|