| Обозначение | IEC 60749-44(2016) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 44. Метод определения одиночного импульса излучения (SEE), вызываемого пролетом пучка нейтронов, для полупроводниковых приборов |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 27.07.2016 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 46 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | F |
 |