| Обозначение | IEC 60749-5(2017) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившейся температуре с изменением параметров влажности |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60749-5(2003) |
| Обозначение заменяющего | IEC 60749-5(2023) |
| Дата опубликования | 10.04.2017 |
| Язык оригинала | английский |
| Количество страниц оригинала | 14 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 2.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | C |
 |