Обозначение | IEC 60749-17(2019) |
Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 17. Нейтронное облучение |
Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation |
МКС | 31.080.01 |
Вид стандарта | ST |
Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60749-17(2003) |
Дата опубликования | 28.03.2019 |
Язык оригинала | английский;французский |
Количество страниц оригинала | 17 |
ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
Номер издания | 2.0 |
Статус | Действует |
Код цены | C |
|