Обозначение | IEC 60749-18(2019) |
Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 18. Ионизирующее излучение (суммарная доза) |
Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) |
МКС | 31.080.01 |
Вид стандарта | ST |
Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60749-18(2002) |
Дата опубликования | 10.04.2019 |
Язык оригинала | английский;французский |
Количество страниц оригинала | 44 |
ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
Номер издания | 2.0 |
Статус | Действует |
Код цены | F |
|