Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6449799.aspx

IEC 62047-36(2019)

Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 36. Климатические испытания и испытания диэлектрической прочности пьезорезистивных тонких пленок микроэлектромеханических систем (MEMS)

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеIEC 62047-36(2019)
Заглавие на русском языкеПриборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 36. Климатические испытания и испытания диэлектрической прочности пьезорезистивных тонких пленок микроэлектромеханических систем (MEMS)
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 36: Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
МКС31.080.99; 31.140
Вид стандартаST
Дата опубликования05.04.2019
Язык оригиналаанглийский
Количество страниц оригинала16
ТК – разработчик стандарта TC 47/SC 47F
Номер издания1.0
СтатусДействует
Код ценыD

Стандарт IEC 62047-36(2019) входит в рубрики классификатора: