| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Стандартные образцы. Общие и статистические принципы аттестации
|
Заменен |
|
Русскоязычная версия
|
Нет
|
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Стандартные образцы. Руководство по характеризации и оцениванию однородности и стабильности
|
Заменен |
|
Перевод на русский язык
|
Нет
|
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Руководство по внутрилабораторному изготовлению материалов для контроля качества (МКК)
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
Русскоязычная версия
|
Нет
|
|
|
|
Стандартные образцы. Примеры стандартных образцов качественных свойств
|
Действует |
|
Русскоязычная версия
|
66268,00
|
|
На языке оригинала
|
33134,00
|
|
|
|
Автоматизированные системы дозирования жидкостей. Неопределенность в процедурах измерения
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
33134,00
|
|
|
|
Стандартные образцы. Рекомендации и ключевые слова, используемые для классификации СО
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18346,00
|
|
Перевод на русский язык
|
36692,00
|
|
|
|
Глобальное распространение стандартных образцов
|
Действует |
|
Русскоязычная версия
|
24336,00
|
|
На языке оригинала
|
12168,00
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Описание характеристик наноструктурных материалов
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Описание характеристик наноструктурных материалов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
33134,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Измерение глубины напыления
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины. Измерение глубины напыления
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18346,00
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Предлагаемая процедура сертификации оставшихся в рабочем стандартном образце areic доз, производимых имплантацией ионов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
24710,00
|
|
|
|
Стандартные образцы. Установление и выражение метрологической прослеживаемости значений величин, приписанных стандартным образцам
|
Действует |
|
Перевод на русский язык
|
49420,00
|
|
На языке оригинала
|
24710,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методики определения фона
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12168,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Оже-электронная спектроскопия. Источник химической информации
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Оже-электронная спектроскопия. Источник химической информации
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
24710,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение разрешения по плоскости, анализируемой площади и площади образца, наблюдаемой оператором
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Фундаментальные подходы к определению поперечного разрешения и резкости при использовании методов на базе пучка
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
41371,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Определение характеристик функциональных стеклянных подложек для биосенсорных устройств
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
29016,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Измерение скорости напыления: метод сетчатой реплики с применением механического матричного профилометра
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18346,00
|
|
| Страницы: ... / 10 / 11 / 12 / 13 / 14 / 15 / 16 / 17 / 18 |