| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 15. Метод определения силы сцепления между PDMS и стеклом
|
Отменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 16. Методы определения остаточных напряжений в пленках MEMS. Методы определения отклонения кантилеверной балки и кривизны пластины
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6336,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 17. Метод испытания на вспучивание для измерения механических свойств тонких пленок
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
31680,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 18. Метод испытания на изгиб тонкопленочных материалов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12672,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 19. Электронные компасы
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
31680,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 20. Гироскопы
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
50688,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 21. Метод определения коэффициента Пуассона тонкопленочных MEMS материалов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12672,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 22. Метод испытания на растяжение проводящих тонких пленок на гибких подложках
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6336,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 25. Технология изготовления MEMS на основе кремния. Метод измерения прочности на отрыв-сжатие и на сдвиг контактной микроплощадки
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
24552,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 26. Методы описания и измерения микрощелевых и игольчатых структур
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
31680,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 27. Определение прочности соединения структур со стеклокристаллическим припоем, используя испытания на микрошевроне (MCT)
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12672,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 28. Метод определения характеристик электретных микроэлектромеханических устройств аккумулирования энергии колебаний
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18216,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 29. Метод определения электромеханической релаксации отдельных электропроводящих тонких пленок при комнатной температуре
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12672,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 30. Методы измерения характеристик электромеханического преобразования пьезоэлектрических тонких пленок MEMS
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18216,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 31. Методы испытания на четырех-точечный изгиб слоистых материалов микроэлектромеханических систем (MEMS) для измерения энергии адгезии на поверхности раздела
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12672,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 32. Метод определения нелинейных колебаний резонаторов микроэлектромеханических систем (MEMS)
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18216,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 33. Пьезорезистивные пневмодатчики микроэлектромеханических систем (MEMS)
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
24552,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 34. Методы испытаний на пластине пьезорезистивных пневмодатчиков микроэлектромеханических систем (MEMS)
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12672,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 35. Метод определения электрических характеристик при деформации изгиба гибких электромеханических устройств
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
24552,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 36. Климатические испытания и испытания диэлектрической прочности пьезорезистивных тонких пленок микроэлектромеханических систем (MEMS)
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12672,00
|
|
| Страницы: ... / 851 / 852 / 853 / 854 / 855 / 856 / 857 / 858 / 859 / 860 / 861 / 862 / 863 / 864 ... / 1147 |