| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 20. Общие технические условия на пленочные и гибридные интегральные схемы
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
45360,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 20: Общие технические условия на пленочные и гибридные интегральные схемы. Изменение 1
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
1620,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 20: Общие технические условия на пленочные и гибридные пленочные интегральные схемы. Раздел 1: Требования к внутреннему визуальному осмотру
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
32400,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 21. Групповые технические условия на пленочные интегральные схемы и гибридные пленочные интегральные схемы на основе процедур признания квалификации изготовителя
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25110,00
|
|
|
|
Устройства полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 21. Раздел 1. Типовая форма частных технических условий на пленочные интегральные схемы и гибридные пленочные интегральные схемы, прошедшие аттестацию
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Раздел 1. Типовая форма частных технических условий на пленочные интегральные схемы и гибридные пленочные интегральные схемы на основе процедур признания квалификации изготовителя
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12960,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 22. Групповые технические условия на пленочные интегральные схемы и гибридные пленочные интегральные схемы на основе процедур оценки их возможностей
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 22: Групповые технические условия на пленочные интегральные схемы и гибридные пленочные интегральные схемы на основе процедур признания возможностей изготовителя
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
59130,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 22-1. Типовая форма частных технических условий на пленочные интегральные схемы и гибридные пленочные интегральные схемы на основе процедур признания возможностей изготовителя
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12960,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 23-1. Гибридные интегральные схемы и пленочные структуры. Сертификация производственной линии. Общие технические условия
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
59130,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 23-2. Гибридные интегральные схемы и пленочные структуры. Сертификация производственной линии. Внутренний визуальный контроль и специальные испытания
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
62370,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 23-3. Гибридные интегральные схемы и пленочные структуры. Cертификация производственной линии. Контрольный лист и протокол внутренней оценки изготовителями
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
59130,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 23-4. Гибридные интегральные схемы и пленочные структуры. Сертификация производственной линии. Форма частных технических условий
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18630,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 23-5. Гибридные интегральные схемы и пленочные структуры. Сертификация производственной линии. Методика оценки качества приемки
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
40500,00
|
|
|
|
Микропроцессоры. Терминология
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
3240,00
|
|
|
|
Схемы интегральные. Процедуры утверждения производственной линии и управления качеством
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18630,00
|
|
Перевод на русский язык
|
37260,00
|
|
|
|
Схемы интегральные. Руководство по обращению за утверждением производственных линий
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25110,00
|
|
|
|
Схемы интегральные. Конфигурации выводов запоминающих устройств
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18630,00
|
|
|
|
Схемы интегральные. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 1. Общие условия и определения
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Схемы интегральные. Измерение электромагнитного излучения. Часть 1. Общие условия и определения
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
32400,00
|
|
| Страницы: 1 / 2 / 3 / 4 / 5 / 6 / 7 |