| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Схемы интегральные. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 4. Измерение кондуктивных помех методом прямого соединения 1 Ом/150 Ом
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений, от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 4. Измерение наведенных излучений методом прямого соединения 1 Ом/150 Ом. Изменение 1
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Схемы интегральные. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 4. Измерение кондуктивных помех методом прямого соединения 1 Ом/150 Ом. Поправка 1
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Схемы интегральные. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 4. Измерение кондуктивных помех методом прямого соединения 1 Ом/150 Ом
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Схемы интегральные. Измерение электромагнитного излучения. Часть 4. Измерение кондуктивных помех методом прямого соединения 1 Ом/150 Ом
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
45360,00
|
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 5. Измерение наведенных излучений. Стендовый метод клетки Фарадея
|
Отменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 6. Измерение наведенных излучений. Метод с применением магнитного зонда
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
32400,00
|
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 6. Измерение наведенных излучений. Метод с применением магнитного зонда. Изменение 1
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18630,00
|
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 6. Измерение наведенных излучений. Метод с применением магнитного зонда. Поправка 1
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
-
|
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 6. Измерение наведенных излучений. Метод с применением магнитного зонда
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
88290,00
|
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 8. Измерение радиальных излучений. Метод с полосковыми ИС
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Схемы интегральные. Измерение электромагнитного излучения. Часть 8. Измерение электромагнитного излучения. Метод с использованием полосковой ИС
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18630,00
|
|
|
|
Этикетки упаковочные изделий для электронных блоков, использующие штриховой код и двухразмерную символику
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Ярлыки упаковочные, использующие штриховой код и двухразмерные символы, для электронных компонентов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
40500,00
|
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение стойкости к электромагнитным помехам, от 150 kHz до 1 GHz. Часть 1. Общие положения и определения
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Схемы интегральные. Измерение стойкости к электромагнитным помехам. Часть 1. Общие положения и определения
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25110,00
|
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение стойкости к электромагнитным помехам от 150 kHz до 1 GHz. Часть 2. Измерение стойкости к излученным помехам. Ячейка ТЕМ и метод с использованием широкополосной ТЕМ
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25110,00
|
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение стойкости к электромагнитным помехам, от 150 kHz до 1 GHz. Часть 3. Метод подпитки объемным током
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18630,00
|
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение стойкости к электромагнитным помехам, от 150 kHz до 1 GHz. Часть 4. Метод прямой радиочастотной подпитки
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25110,00
|
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение стойкости к электромагнитным помехам, от 150 kHz до 1 GHz. Часть 5. Метод Фарадея
|
Отменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
| Страницы: 1 / 2 / 3 / 4 / 5 / 6 / 7 |