Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%) в рублях |
|
Система показателей качества продукции. Тиристоры. Номенклатура показателей
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
Элементы электрооптические. Метод измерения полосы модулирующих частот
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
Элементы преобразования частоты лазерного излучения. Методы измерения температуры синхронизма и температуры полуширины синхронизма
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
Элементы преобразования частоты лазерного излучения. Методы измерения угла синхронного падения и угла синхронизма
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
Модули оптические передающие на основе излучателей инжекционных лазеров. Система параметров
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
Модули СВЧ коаксиально-волноводные. Основные параметры
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
Модули СВЧ коаксиально-волноводные. Руководство по применению
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
Наборы резисторов. Основные параметры
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
Микросхемы интегральные полупроводниковые. Метод измерения поверхностного сопротивления диффузионных, эпитаксиальных и напыленных резистивных слоев по тестовым резисторам
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы контроля отсутствия коротких замыканий и обрывов
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
Микросхемы интегральные. Выбор и определение допустимых значений параметров воздействующих технологических факторов при производстве радиоэлектронной аппаратуры на интегральных микросхемах
|
|

Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
Контроль неразрушающий. Методы контроля температуры биполярных транзисторов и интегральных микросхем
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
Приборы электровакуумные. Система условных обозначений
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
Микросхемы интегральные микропроцессорные. Методы контроля электрических параметров
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
Микросхемы интегральные. Классификация и система условных обозначений
|
|

Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
Микросхемы интегральные. Методы измерения коэффициента усиления операционных усилителей
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
Микросхемы интегральные. Метод измерения максимального выходного напряжения операционных усилителей
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
Микросхемы интегральные. Методы измерения напряжения и ЭДС смещения операционных усилителей
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
Микросхемы интегральные. Методы измерения тока потребления операционных усилителей
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
Микросхемы интегральные. Метод измерения максимальной скорости нарастания выходного напряжения операционных усилителей
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
Страницы: ... / 45 / 46 / 47 / 48 / 49 / 50 / 51 / 52 / 53 / 54 / 55 / 56 / 57 / 58 ... / 95 |