| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Структуры фосфида-арсенида галлия. Определение длины волны фотолюминесценции
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Измерение толщины пленок поликристаллического кремния на окисленной кремниевой подложке
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Структуры кремниевые и арсенид-галлиевые эпитаксиальные. Измерение толщины тонких эпитаксиальных слоев методом ИК-эллипсометрии
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Структуры эпитаксиальные и пленки диэлектрические. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев кремния в структурах типа кремний на сапфире (КНС) на основе ИК-интерференции
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Структуры кремниевые эпитаксиальные со скрытым слоем. Правила приемки
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Излучатели гелий-неоновых лазеров с холодным катодом. Метод ускоренной оценки долговечности
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Приборы электронной и ионной спектроскопии. Пушки ионные. Методы измерения основных параметров
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Оборудование для упаковки радиодеталей цилиндрической формы с осевыми выводами. Типы и основные параметры. Общие технические требования
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Конденсаторы и резисторы. Методы ускоренной оценки сохраняемости
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Конденсаторы и резисторы. Методы ускоренной оценки сохраняемости
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Изделия электронной техники. Испытания по оценке конструктивно-технологических запасов. Общие требования
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Материалы оптические и элементы твердосплавных лазеров. Метод определения лазерной прочности
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Элементы электрооптические. Метод измерения полосы модулирующих частот
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Элементы преобразования частоты лазерного излучения. Методы измерения температуры синхронизма и температуры полуширины синхронизма
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Элементы преобразования частоты лазерного излучения. Методы измерения угла синхронного падения и угла синхронизма
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Микросхемы интегральные полупроводниковые. Метод измерения поверхностного сопротивления диффузионных, эпитаксиальных и напыленных резистивных слоев по тестовым резисторам
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы контроля отсутствия коротких замыканий и обрывов
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Микросхемы интегральные. Выбор и определение допустимых значений параметров воздействующих технологических факторов при производстве радиоэлектронной аппаратуры на интегральных микросхемах
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Контроль неразрушающий. Методы контроля температуры биполярных транзисторов и интегральных микросхем
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Микросхемы интегральные микропроцессорные. Методы контроля электрических параметров
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
| Страницы: 1 / 2 / 3 / 4 / 5 / 6 / 7 / 8 ... / 11 |