Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%) в рублях |
|
Автоматизированные системы дозирования жидкостей. Неопределенность в процедурах измерения
|
Действует |
На языке оригинала
|
30102,00
|
|
|
Стандартные образцы. Рекомендации и ключевые слова, используемые для классификации СО
|
Действует |
На языке оригинала
|
16704,00
|
Перевод на русский язык
|
33408,00
|
|
|
Глобальное распространение стандартных образцов
|
Действует |
Русскоязычная версия
|
21924,00
|
На языке оригинала
|
10962,00
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Описание характеристик наноструктурных материалов
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Описание характеристик наноструктурных материалов
|
Действует |
На языке оригинала
|
30102,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Измерение глубины напыления
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины. Измерение глубины напыления
|
Действует |
На языке оригинала
|
16704,00
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Предлагаемая процедура сертификации оставшихся в рабочем стандартном образце areic доз, производимых имплантацией ионов
|
Действует |
На языке оригинала
|
22446,00
|
|
|
Стандартные образцы. Установление и выражение метрологической прослеживаемости значений величин, приписанных стандартным образцам
|
Действует |
На языке оригинала
|
22446,00
|
Перевод на русский язык
|
44892,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методики определения фона
|
Действует |
На языке оригинала
|
10962,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Оже-электронная спектроскопия. Источник химической информации
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Химический анализ поверхности. Оже-электронная спектроскопия. Источник химической информации
|
Действует |
На языке оригинала
|
22446,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение разрешения по плоскости, анализируемой площади и площади образца, наблюдаемой оператором
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Фундаментальные подходы к определению поперечного разрешения и резкости при использовании методов на базе пучка
|
Действует |
На языке оригинала
|
37584,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Определение характеристик функциональных стеклянных подложек для биосенсорных устройств
|
Действует |
На языке оригинала
|
26274,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Измерение скорости напыления: метод сетчатой реплики с применением механического матричного профилометра
|
Действует |
На языке оригинала
|
16704,00
|
|
|
Газовый анализ. Общие аспекты обеспечения качества калибровочных газовых смесей, используемых при пайке. Руководящие указания
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия с тлеющим разрядом (GD-MS). Введение к использованию
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия тлеющего разряда. Эксплуатационные методики
|
Действует |
На языке оригинала
|
16704,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Использование рентгенофлуоресцентной спектроскопии полного отражения (TXRF) в биологическом и экологическом анализе
|
Действует |
На языке оригинала
|
26274,00
|
|
Страницы: ... / 10 / 11 / 12 / 13 / 14 / 15 / 16 / 17 / 18 |