 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 14237:2000 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение атомной концентрации бора в кремнии с помощью однородно легированных материалов |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 14237:2000 | | Статус | Заменен | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение атомной концентрации бора в кремнии с помощью однородно легированных материалов | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials | | Дата отмены | 09.07.2010 | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | Обозначение заменяющего | ISO 14237:2010 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 01.02.2000 | | Количество страниц оригинала | 28 | | Код цены | | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 14237:2000 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|