 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO/TTA 4:2002 |  на печать | | Измерение удельной теплопроводности тонких пленок на кремниевых подложках |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO/TTA 4:2002 | | Статус | Отменен | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Измерение удельной теплопроводности тонких пленок на кремниевых подложках | | Заглавие на английском языке | Measurement of thermal conductivity of thin films on silicon substrates | | Дата отмены | 30.09.2017 | | Код КС (ОКС, МКС) | 19.100 | | ТК – разработчик стандарта | VAMAS | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 28.11.2002 | | Количество страниц оригинала | 24 | | Код цены | D | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO/TTA 4:2002 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|