 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 14706:2000 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Определение загрязнения поверхности элементами на силиконовых пластинках методом флюоресцентной рентгеновской общеотражающей спектроскопии |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 14706:2000 | | Статус | Заменен | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Определение загрязнения поверхности элементами на силиконовых пластинках методом флюоресцентной рентгеновской общеотражающей спектроскопии | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis. Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy | | Дата отмены | 25.07.2014 00:00:00 | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | Обозначение заменяющего | ISO 14706:2014 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 01.12.2000 | | Количество страниц оригинала | 28 | | Код цены | | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 14706:2000 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|