 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 15472:2001 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибрование энергетической шкалы |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 15472:2001 | | Статус | Заменен | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибрование энергетической шкалы | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectrometers. Calibration of energy scales | | Дата отмены | 19.04.2010 | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | Обозначение заменяющего | ISO 15472:2010 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 7 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 01.02.2001 | | Количество страниц оригинала | 34 | | Код цены | | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 15472:2001 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|