 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 18452:2005 |  на печать | | Керамика тонкая (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Определение толщины керамических пленок контактным профилометром |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 18452:2005 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Керамика тонкая (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Определение толщины керамических пленок контактным профилометром | | Заглавие на английском языке | Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) -- Determination of thickness of ceramic films by contact-probe profilometer | | Код КС (ОКС, МКС) | 81.060.30 | | ТК – разработчик стандарта | TC 206 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 16.11.2005 | | Количество страниц оригинала | 14 | | Код цены | B | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 18452:2005 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
10530,00
|
|
|
|