 |
|
ISO 3497:2000 |  на печать | | Покрытия металлические. Измерение толщины покрытия. Спектрометрические рентгеновские методы |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 3497:2000 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Покрытия металлические. Измерение толщины покрытия. Спектрометрические рентгеновские методы | | Заглавие на английском языке | Metallic coatings. Measurement of coating thickness. X-ray spectrometric methods | | Код КС (ОКС, МКС) | 25.220.40 | | Обозначение заменяемого(ых) | ISO 3497:1990 | | ТК – разработчик стандарта | TC 107/SC 2 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 3 | | Дата опубликования | 01.12.2000 | | Количество страниц оригинала | 24 | | Код цены | C | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 3497:2000 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
15860,00
|
|
|
|