 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC/PAS 62164(2000) |  на печать | | Руководящие указания по проведению испытаний на долговечность GaAs-полупроводниковых интегральных схем СВЧ-диапазона (GaAs MMIC) и полевых транзисторов (FET) |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC/PAS 62164(2000) | | Заглавие на русском языке | Руководящие указания по проведению испытаний на долговечность GaAs-полупроводниковых интегральных схем СВЧ-диапазона (GaAs MMIC) и полевых транзисторов (FET) | | Заглавие на английском языке | Guidelines for GaAs MMIC and FET life testing | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 01.08.2000 | | Язык оригинала | английский | | Количество страниц оригинала | 20 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Отменен | | Код цены | | |
| | Стандарт IEC/PAS 62164(2000) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|