 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 62373(2006) |  на печать | | Транзисторы со структурой металл-оксид, полупроводниковые, полевые. Испытание стабильности при отклонении температуры |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 62373(2006) | | Заглавие на русском языке | Транзисторы со структурой металл-оксид, полупроводниковые, полевые. Испытание стабильности при отклонении температуры | | Заглавие на английском языке | Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) | | МКС | 31.080 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 27.07.2006 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 30 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | D | |
| | Стандарт IEC 62373(2006) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
12960,00
|
|
|
|