 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC/PAS 62162(2000) |  на печать | | Метод испытания на определение порогов устойчивости к электростатическому разряду для компонентов микроэлектроники с помощью модели зарядного устройства с индуцированным полем |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC/PAS 62162(2000) | | Заглавие на русском языке | Метод испытания на определение порогов устойчивости к электростатическому разряду для компонентов микроэлектроники с помощью модели зарядного устройства с индуцированным полем | | Заглавие на английском языке | Field-induced charged-devise model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 01.08.2000 | | Язык оригинала | английский | | Количество страниц оригинала | 7 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | B | |
| | Стандарт IEC/PAS 62162(2000) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
3744,00
|
|
|
|