 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 62276(2005) |  на печать | | Монокристаллические пластины, используемые для устройств на поверхностных акустических волнах. Технические условия и методы измерения |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 62276(2005) | | Заглавие на русском языке | Монокристаллические пластины, используемые для устройств на поверхностных акустических волнах. Технические условия и методы измерения | | Заглавие на английском языке | Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods | | МКС | 31.140 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | IEC/PAS 62276(2001) | | Обозначение заменяющего | IEC 62276(2012) | | Дата опубликования | 09.06.2005 | | Язык оригинала | английский | | Количество страниц оригинала | 38 | | ТК – разработчик стандарта | TC 49 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Заменен | | Код цены | | |
| | Стандарт IEC 62276(2005) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|