 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC/PAS 62181(2000) | на печать | Испытание нарушения срабатывания интегральных схем (IC) |
|
|  | Библиография Обозначение | IEC/PAS 62181(2000) | Заглавие на русском языке | Испытание нарушения срабатывания интегральных схем (IC) | Заглавие на английском языке | IC latch-up test | МКС | 31.080.01 | Наличие терминов РОСТЕРМ | 1 | Вид стандарта | ST | Обозначение заменяющего | IEC 60749-29(2003) | Дата опубликования | 01.07.2000 | Язык оригинала | английский | Количество страниц оригинала | 21 | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | Номер издания | 1.0 | Статус | Заменен | Код цены | |  |
|  | Стандарт IEC/PAS 62181(2000) входит в рубрики классификатора:
| |
|  |
|
 |
 |
Цены |
На языке оригинала |
Нет
|
|
|