 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60147-0E(1979) | | Заглавие на английском языке | Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. | | Вид стандарта | ST*N | | Дескрипторы (английский язык) | DEFINITIONS*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*LIMITS (MATHEMATICS)*MEASUREMENT*PROPERTIES*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*TERMINOLOGY*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS | | Обозначение заменяющего | IEC 60747-1(1983)*IEC 60747-2(1983)*IEC 60747-3(1988)*IEC 60748-2(1985)*IEC 60748-3(1986) | | Дата опубликования | 01.01.1979 | | Язык оригинала | en*fr | | Количество страниц оригинала | 43 | | ТК – разработчик стандарта | IEC/TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Заменен | | Код цены | | |
| | |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|