 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60749-18(2002) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 18. Нейтронное облучение (суммарная доза) |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60749-18(2002) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 18. Нейтронное облучение (суммарная доза) | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяющего | IEC 60749-18(2019) | | Дата опубликования | 20.12.2002 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 30 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Заменен | | Код цены | D | |
| | Стандарт IEC 60749-18(2002) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|