 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60147-2C(1970) |  на печать | | Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2: общие принципы методов измерений. Десятое дополнение к публикации 147-2-63 |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60147-2C(1970) | | Заглавие на русском языке | Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2: общие принципы методов измерений. Десятое дополнение к публикации 147-2-63 | | Заглавие на английском языке | Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods. | | МКС | 31.020 | | Вид стандарта | ST*N | | Дескрипторы (английский язык) | ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*LIMITS (MATHEMATICS)*MEASUREMENT*PROPERTIES*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS | | Обозначение заменяющего | IEC 60747-1(1983)*IEC 60747-2(1983)*IEC 60747-6(1983) | | Дата опубликования | 01.01.1970 | | Язык оригинала | en*fr | | Количество страниц оригинала | 73 | | Количество страниц перевода | 45 | | ТК – разработчик стандарта | IEC/TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Заменен | | Код цены | | |
| | Стандарт IEC 60147-2C(1970) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|