 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 50441-1-1981 | | Заглавие на английском языке | Testing of semiconductive inorganic materials; determination of the geometric dimensions of semiconductor slices; measurement of thickness | | Дата опубликования | 01.02.1981 | | МКС | 29.045 | | Вид стандарта | ST*N | | Обозначение заменяющего | DIN 50441-1(1996.07) | | Примечание | Das Verfahren dieser Norm dient dazu, die Dicke von Halbleiterscheiben jeder Oberflaechenbeschaffenheit zu bestimmen, wobei sowohl beruehrungsfreie als auch beruehrend arbeitende Dickenmessgeraete verwendet werden koennen. | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 2 | | Перекрестные ссылки | DIN 4760*DIN 879-1 | | Код цены | Preisgruppe 5 | |
| | Стандарт DIN 50441-1-1981 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|