 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 50434-1986 |  на печать | | Материалы для полупроводниковой технологии. Определение дефектов монокристаллов кремния при помощи техники травления на поверхности (111) и (100) |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 50434-1986 | | Заглавие на русском языке | Материалы для полупроводниковой технологии. Определение дефектов монокристаллов кремния при помощи техники травления на поверхности (111) и (100) | | Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology; detection of crystal defects in monocrystalline silicon using etching techniques on {111} and {100} surfaces | | Дата опубликования | 01.02.1986 | | МКС | 29.045 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50434(1976-01)*DIN 50434(1984-09) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 9 | | Перекрестные ссылки | DIN 50433-1(1976-12)*DIN 50443(1980-06)(Draft)*ASTM F 47(1982) | | Код цены | Preisgruppe 8 | |
| | Стандарт DIN 50434-1986 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|