 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 50448-1998 |  на печать | | Материалы для полупроводниковой технологии. Бесконтактное измерение удельного электрического сопротивления полуизолированных полупроводниковых дисков с емкостным зондом |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 50448-1998 | | Заглавие на русском языке | Материалы для полупроводниковой технологии. Бесконтактное измерение удельного электрического сопротивления полуизолированных полупроводниковых дисков с емкостным зондом | | Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology - Contactless determination of the electrical resistivity of semi-insulation semiconductor slices using a capacitive probe | | Дата опубликования | 01.01.1998 | | МКС | 29.045 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50448(1995-12) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 3 | | Перекрестные ссылки | | | Код цены | Preisgruppe 5 | |
| | Стандарт DIN 50448-1998 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|