 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 60749-25-2004 |  на печать | | Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний Часть 25. Циклическое изменение температуры |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 60749-25-2004 | | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний Часть 25. Циклическое изменение температуры | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling (IEC 60749-25:2003); German version EN 60749-25:2003 | | Дата опубликования | 01.04.2004 | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749(2002-09, partial)*DIN EN 60749-25(2002-09) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 15 | | Перекрестные ссылки | EN 60068-2-14(1999-11)*IEC 60068-2-14(1984) | | Код цены | Preisgruppe 11 | |
| | Стандарт DIN EN 60749-25-2004 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|