 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 50455-2-1999 |  на печать | | Материалы для полупроводниковой технологии. Методы определения характеристик фоторезистов. Часть 2. Определение светочувствительности позитивных фоторезистов |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 50455-2-1999 | | Заглавие на русском языке | Материалы для полупроводниковой технологии. Методы определения характеристик фоторезистов. Часть 2. Определение светочувствительности позитивных фоторезистов | | Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology - Methods for the characterisation photoresists - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists | | Дата опубликования | 01.11.1999 | | МКС | 29.045 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50455-2(1998-07) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 4 | | Перекрестные ссылки | DIN 5031-1(1982-03)*DIN 50455-1(1991-06)*VDI 2083 Blatt 3(1993-02)(Draft) | | Код цены | Preisgruppe 5 | |
| | Стандарт DIN 50455-2-1999 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|