 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 60749-14-2004 |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 14. Прочность выводов (целостность концевых выводов) |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 60749-14-2004 | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 14. Прочность выводов (целостность концевых выводов) | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity) (IEC 60749-14:2003); German version EN 60749-14:2003 | | Дата опубликования | 01.07.2004 | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749(2002-09, partial)*DIN EN 60749-14(2002-09) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 19 | | Перекрестные ссылки | IEC 60749-8(2002-08) | | Код цены | Preisgruppe 13 | |
| | Стандарт DIN EN 60749-14-2004 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|