 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 45940-1132*CECC 90112-1989 |  на печать | | Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Контуры монолитные кремниевые динамической памяти для считывания и записи МОП-структуры. Типовая форма частных технических условий |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 45940-1132*CECC 90112-1989 | | Заглавие на русском языке | Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Контуры монолитные кремниевые динамической памяти для считывания и записи МОП-структуры. Типовая форма частных технических условий | | Заглавие на английском языке | Harmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: MOS read/wirte dynamic memories silicon monolithic circuits | | Дата опубликования | 01.02.1989 | | МКС | 31.200 | | Вид стандарта | ST | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 28 | | Количество страниц перевода | 28 | | Перекрестные ссылки | DIN 45940-1(1984-11)*CECC 90100(1986)*IEC 60117*IEC 60117-15*IEC 60147*IEC 60147-0(1966)*IEC 60147-1(1972)*IEC 60147-2(1963)*IEC 60148(1969) | | Код цены | Preisgruppe 10 | |
| | Стандарт DIN 45940-1132*CECC 90112-1989 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|