 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 50440-1998 |  на печать | | Материалы для полупроводниковой технологии. Определение рекомбинационной долговечности носителей заряда в монокристаллах кремния при незначительной инжекции методом фотопроводимости |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 50440-1998 | | Заглавие на русском языке | Материалы для полупроводниковой технологии. Определение рекомбинационной долговечности носителей заряда в монокристаллах кремния при незначительной инжекции методом фотопроводимости | | Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology - Measurement of carrier lifetime in silicon single crystals - Recombination carrier lifetime at low injection by photoconductivity method | | Дата опубликования | 01.11.1998 | | МКС | 29.045 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50440(1995-12)*DIN 50440-1(1981-11) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 8 | | Перекрестные ссылки | DIN 19226-2(1994-02)*DIN IEC 60469-1(1991-05)*ASTM F 28(1991) | | Код цены | Preisgruppe 7 | |
| | Стандарт DIN 50440-1998 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|