 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 60749-35-2007 |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия для электронных компонентов в пластиковой упаковке |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 60749-35-2007 | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия для электронных компонентов в пластиковой упаковке | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006); German version EN 60749-35:2006 | | Дата опубликования | 01.03.2007 | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN IEC 60749-35(2004-12) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 21 | | Перекрестные ссылки | IEC 60749-20(2002-09) | | Код цены | Preisgruppe 14 | |
| | Стандарт DIN EN 60749-35-2007 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|