 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 60749-29-2004 |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 29. Испытание на "защелкивание" |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 60749-29-2004 | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 29. Испытание на "защелкивание" | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2003); German version EN 60749-29:2003 + Corrigendum:2004 | | Дата опубликования | 01.07.2004 | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749-29(2002-09) | | Обозначение заменяющего | DIN EN 60749-29(2012-01) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 22 | | Перекрестные ссылки | | | Код цены | Preisgruppe 14 | |
| | Стандарт DIN EN 60749-29-2004 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|