 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 62526(2007) |  на печать | | Стандартный язык тестирования интерфейсов (STIL) для сред проектирования полупроводников |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 62526(2007) | | Заглавие на русском языке | Стандартный язык тестирования интерфейсов (STIL) для сред проектирования полупроводников | | Заглавие на английском языке | Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments | | МКС | 25.040 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 15.11.2007 | | Язык оригинала | английский | | Количество страниц оригинала | 128 | | ТК – разработчик стандарта | TC 93 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | N | |
| | Стандарт IEC 62526(2007) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
76752,00
|
|
|
|