 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60747-11(1985)/Amd.1(1991) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 11: Частные технические условия на дискретные приборы. Изменение 1 |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60747-11(1985)/Amd.1(1991) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 11: Частные технические условия на дискретные приборы. Изменение 1 | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices; part 11: sectional specification for discrete devices; amendment 1 | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST*N | | Дескрипторы (английский язык) | DISCRETE DEVICES*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*INSPECTION*INTEGRATED CIRCUITS*MARKING*MEASUREMENT*QUALITY ASSURANCE*SECTIONAL SPECIFICATION*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*SPECIFICATION (APPROVAL)*SPECIFICATIONS*ELECTRONIC EQU | | Обозначение заменяемого в части | IEC 60747-11(1985) | | Дата опубликования | 01.11.1991 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 6 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Отменен | | Код цены | | |
| | Стандарт IEC 60747-11(1985)/Amd.1(1991) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|