 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 62374-2008 |  на печать | | Полупроводниковые приборы. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для управляющих диэлектрических пленок |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 62374-2008 | | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для управляющих диэлектрических пленок | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007); German version EN 62374:2007 | | Дата опубликования | 01.02.2008 | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 24 | | Перекрестные ссылки | | | Код цены | Preisgruppe 15 | |
| | Стандарт DIN EN 62374-2008 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|