 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60759(1983) |  на печать | | Спектрометры полупроводниковые энергии рентгеновского излучения. Стандартные методы испытаний |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60759(1983) | | Заглавие на русском языке | Спектрометры полупроводниковые энергии рентгеновского излучения. Стандартные методы испытаний | | Заглавие на английском языке | Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers | | МКС | 17.240 | | Вид стандарта | ST*N | | Дескрипторы (английский язык) | DEFINITIONS*DETECTORS (CIRCUITS)*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*MEASUREMENT*NUCLEAR TECHNOLOGY*RADIOACTIVITY*SEMICONDUCTORS*TESTING*X-RAYS*DETECTOR CIRCUITS*SEMICONDUCTOR DEVICES*NUCLEAR ENERGY*X RAYS | | Обозначение заменяющего в части | IEC 60759(1983)/Amd.1(1991) | | Примечание | Перевод выполнен без учета измененной части нового издания | | Дата опубликования | 01.01.1983 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 100 | | Количество страниц перевода | 79 | | ТК – разработчик стандарта | TC 45 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | J | |
| | Стандарт IEC 60759(1983) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
45360,00
|
|
|
|