 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60147-2J(1978) | | Заглавие на английском языке | Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods. Ninth supplement: Chapter VII: Analogue integrated circuits | | Вид стандарта | ST*N | | Дескрипторы (английский язык) | ANALOGUE CIRCUITS*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*INTEGRATED CIRCUITS*LIMITS (MATHEMATICS)*MEASUREMENT*PROPERTIES*SEMICONDUCTOR DEVICES*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS | | Обозначение заменяющего | IEC 60748-2(1985), IEC 60747-1(1983), IEC 60147-2(1983), IEC 60147-6(1983) | | Дата опубликования | 01.01.1978 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 115 | | ТК – разработчик стандарта | IEC/TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Заменен | | Код цены | | |
| | |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|