 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 27448:2009 |  на печать | | Керамика тонкая (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения эффективности самоочищения полупроводниковых фотокаталитических материалов. Измерение угла смачивания |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 27448:2009 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Керамика тонкая (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения эффективности самоочищения полупроводниковых фотокаталитических материалов. Измерение угла смачивания | | Заглавие на английском языке | Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) -- Test method for self-cleaning performance of semiconducting photocatalytic materials -- Measurement of water contact angle | | Код КС (ОКС, МКС) | 81.060.30 | | ТК – разработчик стандарта | TC 206 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 02.07.2009 | | Количество страниц оригинала | 14 | | Код цены | B | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 27448:2009 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
10962,00
|
|
|
|