 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60891(1987)/Amd.1(1992) |  на печать | | Приборы фотогальванические из кристаллического кремния. Методика коррекции по температуре и интенсивности падающего излучения результатов измерения вольт-амперной характеристики. Изменение 1 |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60891(1987)/Amd.1(1992) | | Заглавие на русском языке | Приборы фотогальванические из кристаллического кремния. Методика коррекции по температуре и интенсивности падающего излучения результатов измерения вольт-амперной характеристики. Изменение 1 | | Заглавие на английском языке | Procedures for temperature and irradiance corrections to measured I-V characteristics of crystalline silicon photovoltaic devices; amendment 1 | | МКС | 27.160 | | Вид стандарта | ST*N | | Дескрипторы (английский язык) | CHARACTERISTIC CURVES*CORRRECTIONS*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*ENERGY CONVERSION*PHOTOVOLTAICS*R-SERIES SCREW THREADS*SOLAR ENERGY*TEMPERATURE*TESTING*ELECTRONIC EQU*INCH SYSTEM SCREW THREADS | | Обозначение заменяющего | IEC 60891(2009) | | Обозначение заменяемого в части | IEC 60891(1987) | | Дата опубликования | 01.06.1992 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 4 | | ТК – разработчик стандарта | TC 82 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Заменен | | Код цены | | |
| | Стандарт IEC 60891(1987)/Amd.1(1992) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|