|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 29081:2010 | на печать | Химический анализ поверхности. Оже-электронная микроскопия. Методы, используемые для контроля и корректировки заряда |
|
| | Библиография Обозначение | ISO 29081:2010 | Статус | Действует | Вид стандарта | ST | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Оже-электронная микроскопия. Методы, используемые для контроля и корректировки заряда | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy -- Reporting of methods used for charge control and charge correction | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 5 | Язык оригинала | английский | Номер издания | 1 | Дата опубликования | 05.02.2010 | Количество страниц оригинала | 30 | Код цены | D | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 29081:2010 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
22446,00
|
|
|