 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 29081:2010 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Оже-электронная микроскопия. Методы, используемые для контроля и корректировки заряда |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 29081:2010 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Оже-электронная микроскопия. Методы, используемые для контроля и корректировки заряда | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy -- Reporting of methods used for charge control and charge correction | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 5 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 05.02.2010 | | Количество страниц оригинала | 30 | | Код цены | D | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 29081:2010 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
24710,00
|
|
|
|