| Обозначение | ГОСТ Р 8.700-2010 |
| Полное обозначение | ГОСТ Р 8.700-2010 |
| Заглавие на русском языке | Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа |
| Заглавие на английском языке | State system for ensuring the uniformity of measurements. Methods of surface roughness effective height measurements by means of scanning probe atomic force microscope |
| Дата введения в действие | 01.11.2010 |
| Дата огр. срока действия | |
| ОКС | 17.040.01 |
| Код ОКП | |
| Код КГС | Т86 |
| Код ОКСТУ | |
| Индекс рубрикатора ГРНТИ | |
| Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт устанавливает методику измерений эффективной высоты шероховатости изотропных поверхностей твердых тел с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа.
Настоящий стандарт применяют при измерениях эффективной высоты шероховатости поверхностей твердых тел в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус пять) м |
| Ключевые слова | твердые тела;поверхность;эффективная высота шероховатости поверхности;сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп;методика измерений |
| Термины и определения | Раздел стандарта |
| Наличие терминов РОСТЕРМ | |
| Вид стандарта | Основополагающие стандарты |
| Вид требований | |
| Дескрипторы (английский язык) | state system, ensuring, uniformity, measurements, surface roughness, effective height, atomic-force microscopes, scanning probe microscopes, verification |
| Обозначение заменяемого(ых) | |
| Обозначение заменяющего | |
| Обозначение заменяемого в части | |
| Обозначение заменяющего в части | |
| Гармонизирован с: | |
| Аутентичный текст с ISO | |
| Аутентичный текст с IEC | |
| Аутентичный текст с ГОСТ | |
| Аутентичный текст с прочими | |
| Содержит требования: ISO | |
| Содержит требования: IEC | |
| Содержит требования: СЭВ | |
| Содержит требования: ГОСТ | |
| Содержит требования: прочими | |
| Нормативные ссылки на: ISO | |
| Нормативные ссылки на: IEC | |
| Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ Р 8.628;ГОСТ Р 8.629;ГОСТ Р 8.630;ГОСТ Р 8.635;ГОСТ Р 8.644;ГОСТ Р ИСО 14644-2;ГОСТ Р ИСО 14644-5;ГОСТ 12.1.005 ;ГОСТ 12.1.045;ГОСТ 25142 |
| Документ внесен организацией СНГ | |
| Нормативные ссылки на: Прочие | |
| Документ принят организацией СНГ | |
| Номер протокола | |
| Дата принятия в МГС | |
| Присоединившиеся страны | |
| Управление Ростехрегулирования | 2 - Управление метрологии |
| Технический комитет России | 441 - Нанотехнологии |
| Разработчик МНД | |
| Межгосударственный ТК | |
| Дата последнего издания | 15.07.2019 |
| Номер(а) изменении(й) | переиздание |
| Количество страниц (оригинала) | 16 |
| Организация - Разработчик | Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума» (ОАО "НИЦПВ"); Федеральное государственное учреждение «Российский научный центр «Курчатовский институт»; Государственное учреждение Российской академии наук "Институт кристаллографии имени А. В.Шубникова"; Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Московский физико-технический институт (государственный университет)" |
| Статус | Действует |
| Код цены | 2 |
| На территории РФ пользоваться | |
| Отменен в части | |
| Номер ТК за которым закреплен документ | |
| Номер приказа о закреплении документа за ТК | |
| Дата приказа о закреплении документа за ТК | |
 |