 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 62417-2010 |  на печать | | Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 62417-2010 | | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (IEC 62417:2010); German version EN 62417:2010 | | Дата опубликования | 01.12.2010 | | МКС | 31.200 | | Вид стандарта | ST | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 9 | | Перекрестные ссылки | | | Код цены | Preisgruppe 9 | |
| | Стандарт DIN EN 62417-2010 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|