 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 62416-2010 |  на печать | | Полупроводниковые приборы. Испытание с барьером Шоттки на транзисторах MOS |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 62416-2010 | | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытание с барьером Шоттки на транзисторах MOS | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors (IEC 62416:2010); German version EN 62416:2010 | | Дата опубликования | 01.12.2010 | | МКС | 31.080.30 | | Вид стандарта | ST | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 12 | | Перекрестные ссылки | | | Код цены | Preisgruppe 11 | |
| | Стандарт DIN EN 62416-2010 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|